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Bundesadler



Weitere Prüfverfahren

Wirbelstrom- / Magnetfeld-Schichtdickenmessung

Messprinzip Wirbelstromverfahren

Messprinzip Wirbelstromverfahren (Großbild)

Wirbelstrom- und Magnetfeldinduktions-Schichtdicken-Messgerät, FischerScope MMS (Helmut Fischer).

Die Induktion eines Wirbelstromes ist abstandsabhängig, somit kann durch Aufsetzen einer Induktions-Messsonde berührend, aber zerstörungsfrei, die Schichtdicke gemessen werden (DIN EN ISO 2360).
Anwendbar für nichtleitende Schichten auf leitendem, aber nichtmagnetisierbarem Grundmaterial, und für Nichteisenmetall auf Isolierstoffen (z. B. Calciumtitanat auf Titan, Lack auf Edelstahl, Eloxal auf Aluminium, Emaille auf Messing).

Schichtdickenbereich:  2 µm bis 1200 µm

Messprinzip Magnetfeldinduktion

Messprinzip Magnetfeldinduktion (Großbild)

Auch die Induktion eines Magnetfeldes ist abstandsabhängig und kann damit zur Messung von Schichtdicken genutzt werden (DIN EN ISO 2178).
Anwendbar für nichtmagnetisierbare Schichten (d. h. kein Eisen, Nickel oder Cobalt) auf ferromagnetischem Grundmaterial (z. B. Titannitrit, Lack, Emaille, Zink oder Chrom auf Stahl).

Schichtdickenbereich:  2 µm bis 2000 µm

Streifenlichtprojektion

3D-Topographie einer Schweißnaht durch Streifenlichtprojektion

3D-Topographie einer Schweißnaht durch Streifenlichtprojektion (Großbild)

Optisches 3D-Messsystem,  MicroCAD compact (GFM Teltow).

Durch eine schräge Projektion von Linienmustern und eine mikroskopisch-interferometrische Auswertung der Reflexion kann die Topographie der Oberfläche rekonstruiert werden.

Mechanische Profilometrie (Tastschnitt)

Rauheitsprofil durch Tastschnittmessung

Rauheitsprofil durch Tastschnittmessung  (Großbild)

Tastschnittgerät (VDI/VDE 2606), Profilometer XP-2 (Ambios Technology).

Durch mechanisches Abtasten erhält man eine Profillinie, aus der Rauheitsparameter und Stufenhöhen bestimmt werden können.

Mikrohärtemessung nach Vickers / Knoop

Prinzip der Härtebestimmung durch definierte Eindringkörper

Prinzip der Härtebestimmung durch definierte Eindringkörper (Großbild)

Mikrohärtemesskopf zur Härteprüfung nach Vickers und nach Knoop (DIN EN ISO 6507-1, DIN ISO 4516 bzw. 4545, VDI/VDE 2616),  MicroDuromat 4000 (Reichert-Jung).

Durch die mikroskopische Vermessung des Eindrucks eines definierten Prüfkörpers kann die Härte von Dünnschichten und Oberflächen bestimmt werden.

Oberflächen-Schallwellenmessung (SAW)

Messprinzip Oberflächenschallmessung

Messprinzip Oberflächenschallmessung (Großbild)

Oberflächen-Schallwellen-Messplatz,  Thin film analyzer 2.3 (Fraunhofer-Institut Werkstoff und Strahltechnik Dresden).

Laserimpulse erzeugen akustische Oberflächenwellen, aus deren Ausbreitung der E-Modul oder wahlweise die Schichtdicke oder Dichte dünner Schichten bestimmt wird.

Farbmessung

CIE-Normfarbtafel

CIE-Normfarbtafel (Großbild)

Farbmessgerät,  Luci 100 (Dr. Lange).

Spektralfotometrisch werden die reflektierten Farbwertanteile bestimmt, mit denen in verschiedenen Farbsystemen (z. B. CIE-L*a*b*) Farben eindeutig beschrieben sind. Auch Farbdifferenzen werden quantitativ bestimmt.

Tensiometrie

Prinzip Kontaktwinkelmessung nach WILHELMY

Prinzip Kontaktwinkelmessung nach WILHELMY (Großbild)

Tensiometer, zur indirekten Kontaktwinkelmessung,  K 100 (Krüss).

Oberflächenenergiemessung nach der Wilhelmy-Plattenmethode (gravimetrische Bestimmung des Kontaktwinkels dreier Flüssigkeiten aus ihrer Benetzung), für einfache geometrische Körper einheitlicher, z. B. allseitig beschichteter Oberfläche.

Ritztest

Ritzspur mit steigender Kraft ("Scratch-Test")

Ritzspur mit steigender Kraft ("Scratch-Test") (Schema)

Ritztest-Gerät,  Tribo Tester ST3001 (Teer Coatings).

"Scratch-Tester" zur Beurteilung des Kohäsions-, Haftungs-, Ermüdungs- und Verschleißverhaltens von Schicht-Substrat-Systemen.

Elektrochemisches Messsystem / In-situ-Quarzmikrowaage (EQMB)

Elektrochemische Strom-Spannungskurve einer Nano-Kupferschicht

Elektrochemische Strom-Spannungskurve einer Nano-Kupferschicht (Großbild)

Potentiostat und Galvanostat / Schwingungswaage einer Elektrodenschicht auf Quarz, CHI 440 (Fa. CH Instruments).

Synchrone Messung von elektrochemischem Verhalten und Massenänderungen von Dünnschichten mit atomarer Monolagen-Auflösung.

 

Fachbereich 6.7 Oberflächenmodifizierung und -messtechnik  |  Prüfverfahren

2012-05-16  

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